Checkpoint Systems stattet seine intelligenten RFID-Etiketten mit den neuen RAIN-RFID-Chips UCODE X aus. Der von NXP Semiconductors entwickelte UCODE X-Chip bietet optimierte Leistung, konfigurierbaren Speicher und verbesserte Integrationsoptionen. Checkpoint Systems erweitert damit sein Angebot an RFID-Etiketten und reagiert aufwachsende Anforderungen am Markt. Die Integration des NXP UCODE X-Chips in die Etiketten von Checkpoint Systems erfolgt zeitgleich mit seiner allgemeinen Markteinführung. Bei einigen Modellen sorgt die Integration des Chips für eine Leistungsverbesserung um bis zu -3 dBm. Checkpoint Systems ist einer der ersten Hersteller, der für mehrere seiner RFID-Inlays mit dem neuen Chip bereits die ARC-Zertifizierung des RFID-Labors der Auburn University erhalten hat.

Der NXP UCODE X-Chip wurde für die wachsenden Anforderungen von RAIN-RFID-Anwendungen konzipiert. Er kombiniert branchenführende Lese- und Schreibempfindlichkeit mit vollständig konfigurierbarem EPC- und Benutzerspeicher, was Flexibilität für unterschiedliche Anwendungsfälle gibt. UCODE X entspricht den EPC Gen2-Standards und verwendet nicht-proprietäre Funktionen für eine nahtlose Integration in weit verbreitete RFID-Inlay-Formate. Das unterstützt präzisere Lesevorgänge insbesondere in anspruchsvollen RFID-Umgebungen.

Checkpoint Systems, Inc.
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